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23-27 de junio de 2008

Como todos los años desde hace 20, vuelve a celebrarse en Sevilla el curso de postgrado

“Métodos Físicos de Análisis de Capas Finas y Superficies de Sólidos”.

CURSO DE POSTGRADO- MÉTODOS FÍSICOS DE ANÁLISIS DE CAPAS FINAS Y SUPERFICIES DE SÓLIDOS

Este curso de postgrado pretende familiarizar a todos los asistentes con algunos de los metodos físicos de análisis más utilizados en la actualidad para la caracterización de capas finas y superficies.

El curso, de una semana de duración, constará de clases teóricas y sesiones prácticas. Será impartido por profesores de la Universidad de Sevilla e investigadores del CSIC, en las instalaciones y con el equipamiento científico disponible en el Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla y el Centro Nacional de Aceleradores. Los temas que se tratan son:

• Aplicaciones tecnológicas de las películas delgadas.
• Técnicas de preparación de películas o recubrimientos (PVD, CVD).
• Espectroscopias de Fotoemisión (XPS, UPS).
• Microscopías Electrónicas de Transmisión y Barrido (TEM y SEM).
• Espectroscopias Electrónicas (Auger, REELS, EDX, PELES).
• Difracción y Fluorescencia de Rayos X (XRD y XRF).
• Absorción de Rayos X (EXAF, XANES).
• Dispersión de Iones (ISS, RBS).
• Microscopías de aproximación de puntas (AFM, STM).

Los alumnos que lo deseen podrán recibir un diploma acreditativo emitido por el Departamento de Postgrado del CSIC. Para ello, deberán superar un examen de los conocimientos adquiridos. El plazo de inscripción finaliza el 15 de junio. Para más información consulte la página http://www.icmse.csic.es/cursocapas.htm.

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